huvuddelen
Panelmätare
Differenstryck- och trycksändare
Periferiska instrument
Atomkraftsmikroskop
Elektronmikroskop (SEM/TEM/STEM)
Instrument och mätare
Ultrahög upplösning Short Basefield utsläpp skanning elektronmikroskop SU8700
Ultrahögupplöst utsläpps skannelektronemikroskop SU8600-serien
Lyckad operation!