VIP-medlem
Ultrahög upplösning Short Basefield utsläpp skanning elektronmikroskop SU8700
Med den snabba utvecklingen av datainsamling och databehandlingsteknik har elektronmikroskop gått in i en era där man inte bara värderar datakvalitete
Produktdetaljer
Ultrahög upplösning Short Basefield utsläpp skanning elektronmikroskop SU8700
Med den snabba utvecklingen av datainsamling och databehandlingsteknik har elektronmikroskop gått in i en era där man inte bara värderar datakvaliteten utan också sin insamlingsprocess. SU8700 är en ny era inriktad SEM som bygger på den höga bildkvaliteten och den höga stabiliteten som Hitachis elektroskop har, och lägger till höga flödesfunktioner, inklusive automatisk data.
- *
- Utrustningsbilder ingår i tillvalet.
-
Egenskaper
-
Specifikationer
Egenskaper
Ultrahögupplöst observation och analytisk förmåga
Hitachis High Brightness Short Field E-pistol stöder både ultrahögupplösta observationer och snabb mikrostrålsanalys. Utan att använda provstationsbromsning är det fortfarande möjligt att göra högupplösta observationer med en låg accelerationsspänning på bara 0,1 kV för fler tillämpningsscenarier. Samtidigt kan flera nya detektorer kombineras med ett brett utbud av alternativ för att tillgodose ytterligare observationsbehov.
Avancerade automatiseringsfunktioner*
Med EM Flow Creator kan kunderna skapa automatiserade arbetsflöden för kontinuerlig bildinsamling. EM Flow Creator definierar olika SEM-funktioner som grafiska moduler, såsom inställning av förstoring, flyttning av provpositioner, justering av fokusavstånd och ljus-mörk kontrast. Användaren kan dra dessa moduler i en logisk ordning till ett arbetsprogram med en enkel mus. Efter felsökning och bekräftelse kan programmet automatiskt få högkvalitativa, reproducerbara bilddata vid varje samtal.
Kraftfulla display- och interaktionsfunktioner
Native stöd för dubbla skärmar för flexibel och effektiv drift.
6 kanaler visar och sparar samtidigt, vilket möjliggör snabb observation och insamling av flera signaler för att ge mer information.
Stöd för en enda skanning upp till 40 960 x 30 720 ultrahöga pixlar*
Stort synfält och höga pixlar
Bilden till vänster är en hög pixelbild av ett synfält på cirka 120 μm, en enda skanning som samlats in av en ultratunn skiva prov av råtta. Gör en enkel numerisk förstoring av den gula rektangulära bilden för att få den högra bilden. Den högra bilden motsvarar 20 gånger förstoringen av den vänstra bilden och kan fortfarande tydligt bekräfta den inre strukturen av nervcellerna
SU8600 och SU8700 kan skanna upp till 40 960 x 30 720 pixlar på en enda gång.*
* Valfritt
Specifikationer
| Elektroniska optiska system | Sekundär elektronisk upplösning | 0.8 nm@15 kV |
|---|---|---|
| 0.9 nm@1 kV | ||
| Förstör | 20 ~ 2,000,000 x | |
| Elektroniska vapen | Short Base Field lanserar en elektronisk källa | |
| Accelerationsspänning | 0.1 ~ 30 kV | |
| Landningsspänning*1,*3 | 0.01 ~ 7 kV | |
| Största strömmen | 200 nA | |
| Detektor | Standarddetektor | Uppre detektor (UD) |
| Nedre detektor (LD) | ||
| Valfri detektor*3 | Elektronendetektor för bakspridning i spegeln (MD) | |
| Halvledare bakscattered elektrondetektor (PD-BSE) | ||
| Lågvakuumdetektor med hög känslighet (UVD) | ||
| Scanning Transmission Detector (STEM) | ||
| Valbara bilagor*2 | Röntgenergispektrometer (EDS) | |
| Elektronspridningsdiffractionsdetektor (EBSD) | ||
| Provställ | Motorns drivaxel | 5 axels motordriv |
| Rörelseområde | ||
| X | 0 ~ 110 mm | |
| och | 0 ~ 110 mm | |
| Z | 1.5 ~ 40 mm | |
| t | -5 ~ 70° | |
| R | 360° | |
| Provrummet | Provstorlek | Maximal diameter: 150 mm*4 |
| Lågvakuumläge | Vakuumråde | 5 ~ 300 Pa |
- *1
- I försämringsläge
- *2
- Konfigurerbar detektor
- *3
- Alternativ
- *4
- Om det finns större provstorlek krav, vänligen kontakta oss.
Relaterade produktkategorier
- Fokuserad jonstrålesystem (FIB/FIB-SEM)
- TEM/SEM provförbehandling
Onlineförfrågan
-
Kontakter
-
Företag
-
Telefon
-
E-post
-
WeChat
-
Kontrollkod
-
Meddelandeinnehåll
-