Produktfunktioner
Precisionsbeläggningsmaskiner (PECS) från Gatan ™) II är en stationär argon-jonpolerings- och beläggningsutrustning med breda strålar. För samma prov kan polering och beläggning utföras i samma vakuummiljö.

Huvudtekniska egenskaper:
Precisionsbeläggningsinstrument (PECS) ™) II， Använd två breda strålar av argon jonstrålar för att polera provets yta, ta bort förlustskiktet, vilket ger ett högkvalitativt prov för avbildning, EDS, EBSD, CL, EBIC eller annan analys på SEM, optisk spegel eller skanning av elektroniska sonder. Dessutom riktar de två jonpistolerna mot målet sputtring, som kan användas för att göra prov med ledande metallfilm för att förhindra att provet uppstår laddningseffekt i elektroskopet.
Detta instrument är utformat för att bearbeta polerade prover utan att förstöra vakuumet och utsätta färska ytor i atmosfären. Hantering och lossning av prover utförs i vakuumväxlingskammaren med hjälp av ett speciellt utformat provtagningsverktyg.
Två små Penning-jonpistoler med ett större spänningsområde ger en snabb och mjuk poleringseffekt. Jonstrålar som är så låga som 100 eV ger en mjukare poleringseffekt för polering av prover. Den lågeenergiska fokuseringselektroden gör att jonstrålens diameter är enhetlig över nästan hela accelerationsspänningsområdet. Varje jonpistol kan inriktas exakt och oberoende. Under instrumentets drift kan jonpistolens vinkel justeras. Luftströmmen i jonpistolen kan justeras manuellt eller automatiskt på pekskärmen för att optimera arbetsströmmen i jonpistolen.
PECS II-proverna kyls med flytande kväve. Kan skydda provet effektivt, undvika jonstrålvärmeskador och eliminera möjliga illusioner.
Den integrerade 10-tums färgskärmdatorn ger fullständig kontroll över alla driftsparametrar i PECS II-systemet. Detta gränssnitt kan ställa in alla parametrar och kan övervaka poleringsprocessen. Alla driftsparametrar kan också sparas som standard, vilket ger hög precision för upprepade experiment.
Turbomolekylpumpar i kombination med tvåstegs membranpumpar garanterar en ultraren miljö. Snabb provbyte (< 1 min) är möjligt med Gatans provhanteringsverktyg, vilket garanterar att bearbetningsrummet alltid är i högvakuum under provbytet.

Bildbeskrivning: (A) PECSII polerade provytan sekundär elektron bild som visar högt tvillinga korn (B) PECSII polerade zirkoniumlegeringar Chrysanthemum mönster (C) EBSD Euler-vinkeldiagram (D) IPFZ-faser. Bildet tillhandahålls av professor Angus Wilkin-son och Dr Hamidreza Abdolvand, Oxford Materials School. Data samlas in på ett skannelektroskop från Zeiss Merlin Compact med BrukerQuantax EBSD-system.