Olympus polariseringsmikroskop BX51P-Global leverantör

Rum 3008, v?ning 3, byggnad nr 2, v?stra v?gen 50, v?stra byggnadsmaterialet, Haidian distrikt, Peking

Olympus polariseringsmikroskopBX51P är

OlympusPolariseringsmikroskop BX51P Produktegenskaper:

1, professionella polariseringsmikroskop för geologi, olja, kemisk industri, polymerer, flytande kristaller och andra områden;

2, speciella spänningsobjekt ger högupplöst, hög kontrast bild;

3, används för enkel polarisering, ortometrisk spegling, konisk spegling och andra olika observationer;

Transmission, reflektion, reflektion 3 huvudsakliga belysningsmetoder, 12V / 100W ljuskälla;

5, lång livslängd halogenljuskälla användning;

6, värmebord, katod lysande och andra professionella tillbehör.

OlympusBX51P polariseringsmikroskopIntroduktion：

Konisk och ortometrisk inspektion (U-CPA)

Spegelinspektion (U-OPA)

Polariserad ljus mellanläggning (U-CPA eller U-OPA)

För 360 graders positionerbar roterbar inspektör (U-AN360P-2)

Inspektör (U-AN360P-2)

Skalanskivan kan roteras 360 grader med en minsta vinkel på 0,1 grader

Växlbar spegelskiva (U-P4RE)

fyra håls skiva med centrerbara tillbehör;

1/4 våglängdsfördröjning (U-TP137)

Full Wave (U-TP530) och olika tillgängliga kompensatorer

Transportstation (U-SRG2)

Polariserad optisk rotationsbärare med 3-punkts fokuseringsfunktion, kan roteras 360 grader

Kan låsas var som helst, 360 graders markering i 1 grad

Valfritt mekaniskt bärbord (U-FMP)

Fokuseringsspegel (U-POC-2)

Färgdämpningsfri spänningsfokusator (U-POC-2)

Polarisator som kan roteras 360 grader

Numerisk apertur 0,9 (vid inträde av toppspegeln)

och 0,18 (när toppspegeln lämnas)

Variabel apertur kan justeras inom 2mm-21mm

OlympusPolariseringsmikroskop BX51PTekniska parametrar:

BX51P är ett avancerat polariseringssystem mikroskop som använder polarisering för att identifiera olika egenskaper hos prover. Används för identifiering av homogena och heterogena material och används i stor utsträckning i mineraler, kemiska produkter, medicin, botanik och annan analys.

Utmärkta bilder observerade med UIS2-objektet- Det är.

Välj bland de polariserade optiska objektiven ACHN-P och UPLFLN-P med minimal optisk förvrängning. UPLFLN-P-serien är ett generiskt objekt som kan användas för differentiell interferensobservation och fluorescerande observationer, inklusive UV-stimulerad, för att hantera en mängd studier och inspektioner som innehåller polariserad ljus.

* EF-värde: Parallell Nikol och ortogonal Nikol ljusstyrka jämförelse, ju högre EF-värdet desto mindre optisk förvrängning, vilket indikerar att polariserat ljus egenskaper desto bättre.

Utmärkta drifts- och optiska prestanda

Enkel hantering och tydlig observation av mikroskopkroppen

En grundlig strävan efter Y-formet ramverk för ergonomi och maskinteknik gör driften mer bekväm och förbättrar observeringseffektiviteten. Det minskar kraftigt tröttheten vid långvarig observation.

Antalet synfält uppgick till 22, vilket innebar en 21-procentig utvidgning av observationsområdet jämfört med ett vanligt antal synfält på 20. Dessutom använder belysningssystemet en 12 V, 100 W ljus halogenlampa för att observera ljusa och realistiska bilder av polariserat ljus.

Stöd för mer effektiv polariserad ljusovervakning

Ett roterande bärbord med en rotationscenterutgångsmekanism gör att provet kan roteras smidigt. Dessutom förbättras observationseffektiviteten med en låsmekanism som är monterad var 45 ° avstånd.

Det roterande bärbordet är utrustat med dubbla mekaniska bärborden för att kontrollera provets fina rörelser.

Tillbehör för avancerad polariserad ljusavservation

Tillbehör för utmärkt polariserat ljus

Omfattande förbättring av utformningen av polariserade fokusglas och polariserade paneler för att förbättra polariserade prestanda och uppnå höga EF-värden* och hög kontrast för polariserade ljus.

EF-värde: Parallell Nicol och ortogonal Nicol ljusstyrka jämförelse, ju högre EF-värde desto mindre optisk förvrängning, vilket indikerar att polariserat ljus egenskaper desto bättre.

Fördröjningsmätningsområde för olika kompensationsplattor
Kompensationsstyrelse	Mätningsområde	Huvudsakliga användningsområden
U-CTB tjockt Berek	0-11 000 nm	Större fördröjningsmätning (R* > 3 λ). (kristaller, polymerer, fibrer, fotoelastiska förvrängningar etc.)
U-CBE Berek	0-1,640nm	Fördröjningsmätning (kristaller, polymerer, fibrer, biologiska vävnader osv.)
U-CSE Senarmont	0-546nm	Fördröjd mätning (kristallisering, biologisk vävnad osv.) Förbättrad kontrast (biologisk vävnad osv.)
U-CBR1 Brace-Kohler 1/10λ	0-55nm	Små fördröjningsmätningar (kristallisering, biologisk vävnad osv.) Förbättrad kontrast (biologisk vävnad osv.)
U-CBR2 Brace-Kohler 1/30λ	0-20 nm
U-CWE2 kvartskil	500-2 200 nm	Ungefärlig mätning av förseningar (kristallisering, polymerer osv.)

R står för förseningar.
För att förbättra mätnoggrannheten rekommenderas användning tillsammans med interferensfiltret 45IF546. (Förutom U-CWE2)

Skärpa spegelbilder och koniska spegelbilder

Enkel hantering gör det möjligt att växla mellan en spegel och en konisk spegel och att fokusera en bild av en konisk spegel. Dessutom, med hjälp av Bertrand-linser, kan även ett litet område av provet observera realistiska koniska spegelbilder.

Polariseringsmikroskop BX51P Specifikationer
Optiska system			UIS2 optiskt system (oändlig fjärrkorrigering)
Kroppen	Observationsmetoder		Lätt synfält / Enkelt polariserat ljus / Polariserat ljus
	Reflektion/Transmission		Transmission
	Belysningssystem		100 W halogen
	Mellanspegel	Ortoglyp/konisk växling	Borges glasögon, hantering av Bertrand-linser
		Brech-glasögon, Bertrand-linser	Fokuserbar
		Analysator	360° rotation, minsta skala 1° (marköravläsning 0,1°)
	Fokuseringsenhet	Resan	35 mm
		Upplösning/finjustering av känslighet	Finjustera knappen för 1 veckas rörelse 0,1 mm
	Objektivomvandlare		4 hål i mitten av synfältet
Observationskammare	Standardsynfält (antal synfält 20)		-
	Bredvinkel (22 synfält)		Tre observatörer
Lastplats			Roterande bärare för polariserat ljus (kan lutas 45° med lås)
Alternativ			Skärpa färgplatter, kompensationsplattor
Utseende storlek	Kombination av konisk/ortometrisk spegel		317,5 (B) × 587 (D) × 464 (H) mm
	Spegelkombination		317,5 (B) × 587 (D) × 437 (H) mm
Vikt	Kombination av konisk/ortometrisk spegel		16,6 kg (standardkombination)
	Spegelkombination		15,6 kg (standardkombination)