Microtest 2000EW med EH2000 värmefäste

Märke: Deben

Namn Modell: MICROTEST 2000E-serien in situ dynamisk spänning testbänk

Tillverkare: Deben

Distributör: Opodong Co., Ltd.

Omfattande produktbeskrivning:

Produktfunktioner:

Materialet i skannelektroskop gör det möjligt för oss att studera dynamiska mekaniska egenskaper på mikrostrukturell nivå. Vid samtidig utrustning av EBSD-utrustning kan man genom analys av kristallstrukturen, studera i realtid materialets vävnad och andra förändringar som uppstår med dragbelastning och / eller temperaturförändringar.

MICROTEST 2000E-serien är utformad för att utöva dragkraft upp till 2000N på metallprover, användare EBSD-analyser eller rutinmässig spännings-spänningsanalys och SEM-avbildning på några andra material. Provfästet lutar i en vinkel av 70 grader för att ge inställningar för EBSD-analys.

MICROTEST 2000E-serien kan installeras direkt på vissa SEM-standardprover, eller i vissa fall kan C1000XYX ersätta prover. Denna provsida kan användas utanför elektronmikroskop.

MICROTEST 2000E kan fungera i stretch- eller komprimeringsläge. Den funktionsrika programvaran är utrustad för konstant hastighet, konstant belastning eller lågfrekvens-loopdrift med andra funktioner, till exempel att uppnå förinställd belastning vid sluttningar. Spänningsspänningskurvor kan ritas i realtid på skärmen, med grafisk skärm med egenskapsmarker, valfri flerskalighet och skalningsfunktion. MTVideo-alternativet synkroniserar video och datainsamling, vilket möjliggör en senare detaljerad analys av video av deformerade prover.

för variable temperaturstudier. Uppvärmningsfästen kan användas på MICROTEST 2000EW-plattformen (vattenkyld version) i EBSD:s geometri för temperaturer upp till 500 °C.

Varumärke:

Det amerikanska företaget Deben grundades 1964 och gick in på den kinesiska marknaden i slutet av 70-talet. Deben har ett stort rykte inom den globala elektroskopsindustrin för sina produkter med hög prestanda och avancerad teknik.

Som en professionell tillverkare av tillbehör för att förbättra och utöka elektronmikroskopfunktionerna täcker deras produkter alla steg från provförberedelse till avbildning och analys. Produkttillämpningsområdet omfattar materialvetenskap, livsvetenskap, geofysik, elektronik, energivetenskap och andra områden. Kunderna täcker globala forskningsinstitut, universitet, olika typer av testinstitutioner och laboratorier för stora industriella företag och är bredt erkända inom internationell vetenskaplig forskning.

Försäljare:

Opodong Co., Ltd. är en professionell leverantör av mikro-nanoteknik tjänster i Kina, är ett högteknologiskt företag med utländskt kapital som investeringsbakgrund, med huvudkontor i Hongkong, med filialer och kontor i Peking, Shanghai, Liaoning och Shandong. Som en viktig strategisk partner för ZEISS elektronmikroskop, Deben skannerelektroninmikroskop provtagningsutrustning och tillhörande analysutrustning i Kina, följer företaget affärsfilosofin "att skapa inhemskt inflytande instrument försäljning varumärke", med ZEISS, Deben varumärke stark allians, erbjuder högkvalitativa produkter och internationella tekniska tjänster för tiotusentals kinesiska användare.

Huvudtekniska egenskaper:

Last: 2000N kraftmätare, precision 1% mäträckvidd, upplösningsförmåga 0,1% mäträckvidd

Längd och sträckning: monteringsavstånd: 10 mm, sträckning: 10 mm, linjär sträckningsmätare: 3 μm upplösningsförmåga och 10 μm noggrannhet

3, hastighetsområde: 0,033 mm / min - 0,4 mm / min

Större provstorlek: 29 × 27 × 5 (L, W, Hmm) för EBSD-provfäste

Produktspecifikationer: 196 × 96 × 53 (L, W, Hmm) vikt ~ 3,4 kg (2000ES); ~3.9kg（2000EW）

Huvudanvändningsområden:

1, metaller och legeringar: studier av kristallistisk rotation av korn i samband med spänning-spänningsanalys.

utveckling av brister och ackumulering av stress;

Uppvärmning av prover, forskning omkristallisering

Andra (icke-kristallina) material: dynamiska studier av mikrosprickor och andra fel- och deformationsmekanismer i mikroskopisk skala i SEM;

Obs: MICROTEST 5000-serien är också tillgänglig för materialtestningssystem för EBSD